產(chǎn)檢能檢查出胎兒的智力問(wèn)題嗎

產(chǎn)檢能否檢測(cè)出胎兒的智力問(wèn)題與引起智力低下的原因有關(guān)。
智力低下有很多種原因?qū)е?，比如生產(chǎn)過(guò)程中缺血、缺氧造成大腦的不可逆損傷，這種損傷造成的智力低下，產(chǎn)檢是沒(méi)辦法檢查出來(lái)的。
但還有一部分胎兒的智力低下是因?yàn)槿旧w問(wèn)題，比如21號(hào)染色體三體或者18號(hào)染色體部分缺失，或者部分重復(fù)染色體的問(wèn)題，導(dǎo)致的胎兒智力低下。在做產(chǎn)檢的時(shí)候，可以通過(guò)做無(wú)創(chuàng)基因檢測(cè)，或者高風(fēng)險(xiǎn)孕婦做羊水穿刺，檢測(cè)胎兒的染色體或者胎兒的基因芯片，排查胎兒染色體有無(wú)問(wèn)題。